Vitek, M., Rot, P., Štruc, V. in Peer, P. 2020. Poglobljen pogled v beločnično biometrijo: Nova podatkovna množica in študija pristopov in kovariatov v razpoznavi. Uporabna informatika. 28, 4 (dec. 2020). DOI:https://doi.org/10.31449/upinf.105.