Vitek, Matej, Peter Rot, Vitomir Štruc, in Peter Peer. 2020. „oglobljen ogled beločnično iometrijo: ova odatkovna množica in študija ristopov in ovariatov azpoznavi“. porabna nformatika 28 (4). Ljubljana, SI. https://doi.org/10.31449/upinf.105.